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日立場發射透射電子顯微鏡HF-3300

簡要描述:

日立場發射透射電子顯微鏡HF-3300,日立公司久負盛名的冷場發射電子槍和300kV高壓系統相結合保證了HF-3300具有超高分辨成像和高靈敏分析能力。HF-3300具有*的雙重雙棱鏡全息攝影功能,可以獲得許多透射電子顯微術無法獲得的信息,特別是與材料的物理性能相關的相位信息(如電勢場、磁場等)。配合元素電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術,HF-3300還可以研究超高空間分辨率

更新時間:2016-09-18

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日立場發射透射電子顯微鏡HF-3300

產品介紹:

HF-3300是一款300kV的冷場發射透射電鏡,日立公司久負盛名的冷場發射電子槍和300kV高壓系統相結合保證了HF-3300具有超高分辨成像和高靈敏分析能力。HF-3300具有*的雙重雙棱鏡全息攝影功能,可以獲得許多透射電子顯微術無法獲得的信息,特別是與材料的物理性能相關的相位信息(如電勢場、磁場等)。配合元素電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術,HF-3300還可以研究超高空間分辨率的元素分析和材料結構特點,為材料研究打開了一扇新的大門。

 

日立場發射透射電子顯微鏡HF-3300主要特點:

高亮度場發射電子槍冷
冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點,使納米量級分析研究成為可能,對超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻。

300kV高壓系統

300kV高壓系統具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。

*的分析能力
新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術等*的分析技術。

可與FIB聯用樣品桿
日立公司專有的樣品桿可適應FIB、TEM和STEM的使用。

簡便易用的控制系統
基于Windows開發的電腦控制系統、馬達驅動可動光闌和5軸馬達樣品臺使得儀器簡單易用,10分鐘的升壓時間和1分鐘的換樣時間保證了儀器高效率的運轉。

 

技術參數:

項目主要參數
電子槍單晶鎢(310)冷場發射電子槍
加速電壓300kV、200kV*、100kV*
點分辨率0.19nm
線分辨率0.10nm
信息分辨率0.13nm
放大倍率低倍:200x - 500x;觀測:2,000x - 1,500,000x
圖像旋轉≤±5°(觀測模式,1,000,000x以下)
樣品傾斜±15°
相機長度300 – 3,000 mm
能譜立體角*0.15Sr

 

應用領域:

HF3300作為一款冷場發射的高電壓透射電鏡,可以作為大部分材料類(金屬、陶瓷等)樣品高分辨觀察的設備,既可以簡化制樣的難度,也可以保證高分辨率。同時,HF-3300也可以滿足高空間分辨率分析的需求,高亮度、低色差的冷場發射電子槍為高空間分辨率的元素和結構分析提供了保障,配合EELS和納米束衍射功能可以實現對納米尺度元素的分布以及晶體結構的研究。*的雙棱鏡全息成像功能使得HF-3300可以獲得更多樣品的信息,尤其是與物理性能相關的信息,大大擴展了其應用領域。

 

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